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納米粒度檢測的幾種技術介紹

發(fā)布日期: 2022-02-17
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1、動態(tài)光散射DLS技術
 
動態(tài)光散射(DLS),是分析納米和亞微米領域的粒度大小與分布常用的方法。
 
根據(jù)Stokes-Einstein理論,顆粒的擴散受溶液粘度、溫度和粒徑的影響。舉例來說,在粘度和溫度一定時,小顆粒運動快,大顆粒運動慢。
 
DLS法檢測粒度(也就是水力學粒徑)是通過探測顆粒在液體中布朗運動的光學信號來分析的。
 
2、傳統(tǒng)光子相關光譜PCS技術
 
大部分的DLS原理是通過PCS方法實現(xiàn)的。單激光束入射到樣品中,顆粒將入射光散射到各個角度,隨后由一個光檢測器收集一定角度上的散射光強。
 
傳統(tǒng)的PCS理論只能針對單散射有效。也就是說每個光子只能被顆粒散射一次。任何多重散射光強的加入都會導致錯誤的結(jié)果。
 
當樣品濃度較高時,發(fā)生多重散射的機率增加,因此往往需要經(jīng)過高倍稀釋后才能進行粒徑檢測。
 
3、創(chuàng)新光子交叉相關光譜PCCS技術
結(jié)合雙光束、雙探測器的設計,在分析高濃度的納米顆粒樣品時,雙探測器得到2組獨立的散射信號,再進行交叉相關運算處理,可以有效消除多重散射的影響,因此檢測結(jié)果不受濃度高低的影響,樣品無需稀釋也可得到、穩(wěn)定的粒徑測試結(jié)果。

 
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