現(xiàn)有的圖像分析儀按照被測物體的運(yùn)動狀態(tài)，分為靜態(tài)圖像分析儀（Static Image Analysis，SIA）與動態(tài)圖像分析儀（Dynamic Image Analysis，DIA）兩大類。
 

   靜態(tài)圖像分析儀，如顯微鏡，可精密對焦，對小顆粒測試可獲得很清晰的圖像。但對于極微量樣品，取樣誤差大，測試結(jié)果的代表性和統(tǒng)計性差；顆粒的取向受載片的限制，只能測量顆粒的一個平面投影圖像；對重疊的顆粒也只能通過數(shù)學(xué)計算的方法進(jìn)行處理；同時受顯微鏡分辨距離的限制，被測試顆粒的小粒徑是有限的。
 

   動態(tài)圖像分析儀和靜態(tài)圖像分析儀相比，測試樣品量增加，減少了取樣誤差，統(tǒng)計的代表性也相對增加；由于測試顆粒處于運(yùn)動狀態(tài)，取向任意，顆粒重疊的現(xiàn)象減少。但也仍存在不少缺點(diǎn)：

（1）顆粒移動過程中對焦，顆粒的移動速度受限；

（2）由于沒有分散，顆粒重疊現(xiàn)象仍然存在；

（3）濕法測量：循環(huán)速率低，大顆粒易沉降，且樣品量少；

（4）干法測量：盡適用于流動性非常好的顆粒的自由落體，無分散；

（5）照相頻率低（25幅/秒），測試數(shù)據(jù)少，結(jié)果的統(tǒng)計性仍然不好；

（6）沒有采用特殊的曝光設(shè)計，圖像的清晰度無；

（7）顆粒的圖像邊界模糊，結(jié)果可靠性太差。


   為了克服現(xiàn)有圖像分析儀存在的樣品量少、測試結(jié)果的代表性和統(tǒng)計性差，分析速度慢等缺點(diǎn)，德國新帕泰克公司研發(fā)并制造出了一臺能對快速移動顆粒直接進(jìn)行粒度大小和粒形分析的粒度粒形分析儀－QICPIC（Quick Picture）。其測試原理為：從高頻脈沖光源發(fā)出的脈沖光，經(jīng)過光束擴(kuò)束器，得到平行的脈沖光，在測試區(qū)域內(nèi)脈沖光照射在分散好的單個顆粒上，經(jīng)過光學(xué)成像系統(tǒng)，得到每個顆粒清晰的圖像，收集到的的圖像數(shù)據(jù)及時傳輸給電腦，電腦給出全部樣品的粒形信息和粒度分布結(jié)果。